EN 61000電氣電子設(shè)備抗擾度要求和試驗(yàn)方法

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EN 61000系列國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)涉及電氣和電子設(shè)備的抗擾度要求和試驗(yàn)方法:
EN 61000 - 4 - 2:2009 IEC 61000 - 4 - 2:2008 電磁兼容性(EMC)-部分4 - 2:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)-靜電放電抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000 - 4 - 3:2006 + A 1 + A2 IEC 61000 - 4 - 3:2006 埃爾ectro磁兼容性(EMC) -第4 - 3:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)-輻射,射頻,電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000 - 4 - 4:2012 IEC 61000 - 4 - 3:2012 電磁兼容性(EMC) - 第4 - 4部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) - 電快速瞬變/猝發(fā)抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000 - 4 - 5:2014 IEC 61000 - 4 - 5:2014 電磁兼容性(EMC) - 第4 - 5部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) - 浪涌抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000 - 4 - 6:2014 IEC 61000 - 4 - 6:2013 電磁兼容性(EMC) -第4 - 6:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)-抗傳導(dǎo)障礙,由射頻場(chǎng)引起。
EN 61000 - 4 - 8:2010 IEC 61000 - 4 - 8:2009 電磁兼容性(EMC) - 第4 - 8部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) - 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000 - 4 - 11:2003 IEC 61000 - 4 - 11:2004 電磁兼容性(EMC) - 第4 - 11部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) - 電壓驟降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)。
EN 61000-4 - 2:2009電磁兼容性(EMC) -部分4 - 2:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) -靜電放電抗擾度試驗(yàn)(IEC 61000 - 4 - 2:2008)
 
模擬: IEC 61000-4-2:2008電磁兼容性(EMC) - 第4部分- 2:測(cè)試和測(cè)量技術(shù) - 靜電放電抗擾度測(cè)試。
 
范圍
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 2:2009定義了關(guān)于靜電放電(ESD)的敏感性要求。該標(biāo)準(zhǔn)定義了電氣和電子設(shè)備測(cè)試的測(cè)試設(shè)置,環(huán)境和測(cè)試級(jí)別,直接或間接地受到用戶的ESD。
 
本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與通用標(biāo)準(zhǔn)或EN 61000 - 4 - 2的特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)一起使用: 2009年沒(méi)有提供有關(guān)特定設(shè)備測(cè)試的具體信息。
 
一般
      靜電荷在休息不平衡的電荷,通常,它是由絕緣體表面摩擦在一起或拉開(kāi)而形成的。一個(gè)表面獲得電子,而另一個(gè)表面失去電子。這導(dǎo)致稱為靜電荷的不平衡電氣狀況。當(dāng)靜電荷從一個(gè)表面移動(dòng)到另一個(gè)表面時(shí),它變?yōu)?ESD。ESD是一個(gè)微型閃電帶,在兩個(gè)具有不同電位的表面之間移動(dòng)。只有當(dāng)兩個(gè)表面之間的電壓差足夠高以破壞分隔兩個(gè)表面的介質(zhì)的介電強(qiáng)度時(shí),才會(huì)發(fā)生這種情況。當(dāng)靜電荷移動(dòng)時(shí),它變成損壞或破壞柵極氧化物,金屬化和結(jié)的電流。ESD測(cè)試有兩種方式:
 
接觸放電(優(yōu)選方法) - 測(cè)試方法,其中測(cè)試發(fā)生器的電極保持與EUT或耦合平面接觸,并且放電由發(fā)生器內(nèi)的放電開(kāi)關(guān)致動(dòng);
空氣放電 - 測(cè)試方法,其中測(cè)試發(fā)生器的充電電極朝向EUT移動(dòng),直到它接觸EUT ;
 
測(cè)試級(jí)別
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 2:2009更喜歡以下測(cè)試級(jí)別和電壓范圍。詳細(xì)的測(cè)試級(jí)別選擇在通用標(biāo)準(zhǔn)和特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中定義。
 
施加的接觸放電ESD脈沖波形使用電流表征。電流波形參數(shù)應(yīng)符合表中定義的要求。
ESD脈沖波
測(cè)試設(shè)置

測(cè)試設(shè)置:
      地板覆蓋有接地金屬板 - 接地平面。表(高度0。8米)覆蓋有水平耦合plane- HCP。水平耦合平面使用兩個(gè)470歐姆電阻連接到地平面。垂直耦合板(VCP)(0。5米× 0。5米)位于表。垂直耦合平面使用兩個(gè)470歐姆電阻連接到地平面。下測(cè)試裝置放置在桌子上1 mm的絕緣片材。
測(cè)試裝置
如果被測(cè)設(shè)備是落地式設(shè)備,則應(yīng)使用落地式測(cè)試裝置。被測(cè)設(shè)備應(yīng)位于地板上地平面上方10 cm的絕緣支架上。垂直耦合plane- VCP,應(yīng)連接使用兩個(gè)到地平面470歐姆的電阻器。
落地式測(cè)試裝置
直接ESD脈沖的應(yīng)用
接觸放電應(yīng)用于導(dǎo)電表面和由非導(dǎo)電層覆蓋的點(diǎn)或表面和點(diǎn),不用作絕緣。空氣放電應(yīng)用于所有其他點(diǎn)和表面。
 
ESD脈沖應(yīng)用于正常使用者可以訪問(wèn)的那些點(diǎn)(除非通用或特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)另有說(shuō)明)。ESD脈沖不適用于:
1.在維護(hù)期間可以訪問(wèn)的點(diǎn)和表面;
2.在服務(wù)中可獲得的點(diǎn)和面;
3.最終安裝后無(wú)法訪問(wèn)的點(diǎn)和表面;
4.連接器針腳由金屬外殼保護(hù);
5.連接器觸點(diǎn)和其他可觸及的部件,由于功能原因而對(duì)ESD敏感,并由ESD警告標(biāo)簽提供。
 
間接的應(yīng)用ESD脈沖
間接ESD脈沖被施加到水平耦合平面和垂直平面耦合。使用接觸放電,垂直耦合平面距離被測(cè)設(shè)備10厘米。
 
性能標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試結(jié)果按功能喪失或性能下降進(jìn)行分類,國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 2:2009未定義通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn),這由通用或特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)定義,EN 61000 - 4 - 2:2009定義了可用于評(píng)估測(cè)試設(shè)備性能的性能標(biāo)準(zhǔn)。
 
性能標(biāo)準(zhǔn)A 
在制造商規(guī)定的限制范圍內(nèi)的正常性能; 
 
性能標(biāo)準(zhǔn)B 
暫時(shí)喪失功能或性能下降。試驗(yàn)后自我恢復(fù),無(wú)需操作員干預(yù); 
 
性能標(biāo)準(zhǔn)C 
暫時(shí)喪失功能或性能下降。測(cè)試后恢復(fù)所需的操作員干預(yù); 
 
績(jī)效標(biāo)準(zhǔn)D 
不可恢復(fù)的功能喪失或性能下降。
硬件或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失。