EN 61000-4-3：2006電磁兼容性（EMC） -第4-3：試驗和測量技術(shù)-輻射，射頻，電磁場抗擾度試驗
模擬： IEC 61000-4-3：2006年埃爾ectro磁兼容性（EMC） -第4-3：試驗和測量技術(shù)-輻射，射頻，電磁場抗擾度試驗
范圍
國際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 3：2006限定了用于電氣和電子設(shè)備抗擾度要求對輻射電磁場，該標(biāo)準(zhǔn)定義了測試級別，測試程序和各種測試設(shè)置。本標(biāo)準(zhǔn)未定義通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)，因此必須與聲明產(chǎn)品要求的通用和特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)一起使用。
一般
射頻范圍內(nèi)的電子設(shè)備活動會引起輻射電磁場，并且這些電磁場通過孔和電纜從設(shè)備外殼泄漏出來。每種類型的設(shè)備都會泄漏RF場，它被稱為無意發(fā)射，這種設(shè)備被稱為無意發(fā)射器。
某些類型的工業(yè)，科學(xué)，醫(yī)療設(shè)備有意使用射頻能量來執(zhí)行特定功能。這可能包括微波加熱器，感應(yīng)加熱器，介電加熱設(shè)備，感應(yīng)電能傳輸/充電設(shè)備。該設(shè)備稱為故意發(fā)射器。
固定收音機，電視和雷達(dá)發(fā)射機，手機，筆記本電腦等被允許使用窄頻譜來發(fā)送和接收信息。這種設(shè)備也稱為有意發(fā)射器。
有意和無意的散熱器會產(chǎn)生電磁環(huán)境，其他設(shè)備必須執(zhí)行其功能。應(yīng)對此設(shè)備進(jìn)行測試，以驗證其在預(yù)期環(huán)境中的性能，而不會降低性能。
測試水平
該標(biāo)準(zhǔn)定義了四種免疫水平。頻率范圍和抗擾度等級選擇取決于通用標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)選擇。表中的測試級別以V / m RMS值定義，無需調(diào)制。
測試設(shè)置
設(shè)備測試在消聲室中進(jìn)行。被測設(shè)備位于木桌0上。地面參考表8米。天線距離3米（可以定義其他距離）。產(chǎn)生電磁場并且測試中的設(shè)備和所有連接的電纜暴露于RF場。
通常頻率范圍為80 MHz- 2?？紤]7 GHz。RF場是1 kHz正弦波，80％幅度調(diào)制。調(diào)制和未調(diào)制信號的示例。
性能標(biāo)準(zhǔn)
測試結(jié)果按功能喪失或性能下降進(jìn)行分類。國際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 3：2006 + A 1 + A 2未定義通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)。這由通用或特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)定義。EN 61000 - 4 - 3：2006 + A 1 + A 2定義了可用于評估測試性能下的設(shè)備的性能標(biāo)準(zhǔn)。
性能標(biāo)準(zhǔn)A
在制造商規(guī)定的限制范圍內(nèi)的正常性能;
性能標(biāo)準(zhǔn)B
暫時喪失功能或性能下降。試驗后自我恢復(fù)，無需操作員干預(yù);
性能標(biāo)準(zhǔn)C
暫時喪失功能或性能下降。測試后恢復(fù)所需的操作員干預(yù);
績效標(biāo)準(zhǔn)D
不可恢復(fù)的功能喪失或性能下降。
硬件或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失。
在幾乎所有通用標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中，性能標(biāo)準(zhǔn)A都是必需的。
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